Skenirajući elektronski mikroskop

Skenirajući elektronski mikroskop (SEM) omogućuje promatranje minerala i stijena otkrivajući detalje površine uzorka koji se ne mogu proučavati običnim mikroskopima. Sustavom elektronskih kondenzorskih leća elektroni se fokusiraju u vrlo uzak snop koji se usmjerava na površinu uzorka i pretražuje ju liniju po liniju (skenira). Na taj način se postiže izvanredna dubinska oštrina, može se vrlo dobro oslikati trodimenzionalnost uzorka i vidjeti detalji u visokoj razlučivosti.