Rasterelektronenmikroskop

Das Rasterelektronenmikroskop (REM) ermöglicht die Beobachtung von Mineralien und Gesteinen und deckt Details der Oberfläche von Proben auf, die mit gewöhnlichen Mikroskopen nicht untersucht werden können. Durch ein System von Elektronenlinsen werden Elektronen zu einem sehr schmalen Strahl fokussiert, der auf die Oberfläche der Probe gerichtet wird und diese Zeile für Zeile abtastet (scannt). Auf diese Weise wird eine außergewöhnliche Tiefenschärfe erreicht, die die dreidimensionale Struktur der Probe gut darstellt und Details in hoher Auflösung sichtbar macht.